Тендер: Проведение периодических испытаний микросхем, детекторов и диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам
Завершён
Начальная цена
2 127 730 ₽
Место поставки
г. Москва,
Москва город
Организатор закупки
Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова"
Анализ заказчика
Документация
Отрасль
- Технический надзор, Технические испытания, Экспертиза промышленной безопасности
- Тендеры на технический надзор, технические испытания, экспертизу промышленной безопасности в Москве
- Электрическая распределительная и регулирующая аппаратура, Электроустановочные изделия, Электронные компоненты
- Тендеры на электрическую распределительную и регулирующую аппаратуру, электроустановочные изделия, электронные компоненты в Москве
Участники и контракты
Аналитика доступна только зарегистрированным пользователям. Пройдите бесплатную регистрацию, чтобы использовать все возможности сервиса
:
:
Тендер на проведение периодических испытаний микросхем, детекторов и диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам
Тендер на проведение периодических испытаний микросхем, детекторов и диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам at
г. Москва, Москва город, Russia, RU
Москва город
Технический надзор, Технические испытания, Экспертиза промышленной безопасности
Электрическая распределительная и регулирующая аппаратура, Электроустановочные изделия, Электронные компоненты
Предмет тендера: Проведение периодических испытаний микросхем, детекторов и диодов на стойкость к внешним воздействующим факторам.
Цена: 2127730 руб.